MICROSCOPIA

O Objetivo da microscopia é a obtenção de imagens ampliadas de um objeto, que nos permitam distinguir detalhes não revelados a olho nu. A forma mais comum é a lupa ou microscópio estereoscópico, seguida do microscópio óptico, que ilumina o objeto com luz visível ou ainda luz ultravioleta. O limite máximo de resolução dos microscópios ópticos é estabelecido pelos efeitos de difração devido ao comprimento de onda da radiação incidente. Mas, em geral, os microscópios ópticos convencionais ficam, então, limitados a um aumento máximo de 2000 vezes.

A imagem microscópica é caracterizada por três parâmetros: aumento, resolução e contraste.

Microscopia Eletrônica de Varredura (MEV)

O MEV surgiu comercialmente em 1965 e desde então tornou-se indispensável em muitos tipos de pesquisa. No MEV a imagem é formada através de um feixe de elétrons que é usado para varrer o espécime (amostra), o qual emite os elétrons secundários (interação de um feixe primário com a superfície de interesse). O feixe de elétrons é produzido em vácuo para evitar colisão com moléculas do ar. Para espécimes bem preparados (bons condutores) é vantajoso trabalhar-se com feixe primário de elétrons acelerados com 20 e 25 kV, pois ganha-se na resolução. Espécimes mais sensíveis podem precisar de elétrons menos energéticos (abaixo de 20 kV).

Também é importante escolher adequadamente a distância de trabalho. Distâncias curtas favorecem melhor resolução, com certo sacrifício da profundidade de foco. O inverso, maiores distâncias de trabalho são necessárias para pequeno aumento, áreas e volumes grandes, garantindo boa profundidade de foco.

A microscopia eletrônica de varredura de alta resolução (usando canhão de emissão de campo) fornece imagens de superfície e de estruturas abaixo da superfície.

Microscopia Eletrônica de Transmissão (MET)

É importante para determinar tamanho e forma de estruturas cristalinas e amorfas; inorgânicas e biológicas. No caso de amostras cristalinas, também pode revelar a composição das partículas.

A formação de imagem no MET é uma projeção bidimensional da amostra, podendo haver sobreposição das linhas e áreas de interesse. A imagem final pode ser de campo claro ou campo escuro. Cada modo de imagem fornece informações complementares sobre a amostra.

No modo campo claro, uma abertura é acionada no plano focal inferior da lente objetiva que permite a passagem apenas dos feixes diretos, não difratados. As regiões correspondentes a estes feixes surgem escuras na imagem, enquanto que regiões com nenhuma amostra no caminho do feixe aparecem mais claras na imagem.

Na imagem de campo escuro, o feixe direto é bloqueado pela abertura do plano focal inferior enquanto que um ou mais feixes difratados passam pela lente objetiva e aparecem claros na imagem. As regiões cujos feixes refratados não foram coletados vão aparecer escuras na imagem. Os feixes difratados têm forte interação com a amostra, fornecendo importantes informações, como defeitos na estrutura e tamanho de partículas.

A maioria dos MET utilizados no estudo de nanomateriais dispõe de tensão de aceleração de até 300 kV. Embora os MET utilizados em biologia, em geral, operam na faixa de 60 a 80 kV.

No Cetene, contamos com o Laboratório de Microscopia e Microanálise (LAMM) responsável pelo gerenciamento da microscopia óptica e eletrônica, preparação de amostras e análise de materiais. O LAMM possui à sua disposição as mais avançadas técnicas de caracterização microscópica, que vão desde a microscopia eletrônica de varredura em modo ambiental até a microscopia eletrônica de transmissão de alta resolução.

INFRAESTRUTURA DO LAMM

Microscopia Óptica :
• Microscópio óptico com câmera acoplada (Leica);
• Microscópio estereoscópico (lupa) com câmera acoplada (Zeiss);
• Microscópio Axion Vision, dotado com sistema ApoTome (Zeiss);
• Microscópio Raman confocal com AFM Alpha 300 (Witec).

Microscopia Eletrônica:
• MEV Quanta 200FEG 30 kV (FEI).
• MET Tecnai G2 200 kV (FEI);
• MET Morgagni 268D 100 kV (FEI);

EQUIPAMENTOS PARA PREPARO DE AMOSTRAS

• Micrótomo;
• Ultramicrótomo;
• Metalizadora (Sputter Coater) de amostras não condutoras;
• Secagem de Ponto crítico;
• Criostato;
• Disco de diamante de baixa rotação;
• Polidor de precisão;
• Polidor eletroquímico;
• Polidor iônico.

TIPOS DE ANÁLISES

Microscópio óptico com câmera acoplada
Histologia
Visualização de imagens até x vezes


Microscópio estereoscópico (lupa) com câmera acoplada

Aumentos de x vezes

Microscópio Axion Vision
Campo claro;
DIC;
Fluorescência com 3 filtros:
DAPI – 365 nm – azul
Alexa – 488nm – verde
Alexa – 546 nm – vermelho
Sistema ApoTome de melhoramento de imagem;

Microscópio Raman confocal com AFM (Witec Alpha 300)
Caracterização química e estrutural de diversos tipos de materiais com resolução espacial de até 300 nm;
Laser de 532nm e 633nm;
AFM permite a obtenção de imagens topográficas de alta resolução;

MEV Quanta 200 FEG
Análises de materiais nos modos de alto vácuo, baixo vácuo e em modo ambiental (permite análises em temperatura, pressão e umidade controlada);
Análise elementar com detector de energia dispersiva (EDS) e Mapeamento elementar;
Atende à demanda de quase todas as áreas de pesquisa;

Grafite

MET Tecnai
Campo claro;
Campo escuro;
orientação cristalográfica em microrregiões por difração de elétrons;
Indicado para análises em diferentes materiais de pesquisa nas áreas de engenharias, ciências dos polímeros, nanociências, materiais, entre outros.

MET Morgagni
Campo claro;
Configurado para analisar amostras biológicas e não biológicas;

      O Ministério da Ciência, Tecnologia, Inovações e Comunicações (MCTIC) divulgou no Diário Oficial da União na quarta-feira (19/12) o Edital para seleção do(a) novo(a) Diretor(a) do Centro de Tecnologias Estratégicas do Nordeste (CETENE), localizado em Recife-PE. Podem se candidatar ao cargo brasileiros natos ou naturalizados, com notório conhecimento e experiência profissional compatível com as áreas de atuação do CETENE, portadores de diploma de doutorado e que atendam aos requisitos básicos descritos no Edital.

EDITAL Nº 316/2018/SEI-MCTIC